SIMS，適用分析深度>1um，可以得到元素與同位素資料；飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）...閎康添購的M6plus為ION-TOF最高階機型，具有<50nmHighlateral . ... <看更多>

該技術提供了從幾埃(Å) 到幾十微米(µm) 的廣泛深度範圍內的元素深度剖面。 樣品表面用 . ... 二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 國立清華大學貴重儀器使用中心. ... <看更多>

該技術提供了從幾埃(Å) 到幾十微米(µm) 的廣泛深度範圍內的元素深度剖面。 樣品表面用 . ... 二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 國立清華大學貴重儀器使用中心. ... <看更多>

該技術提供了從幾埃(Å) 到幾十微米(µm) 的廣泛深度範圍內的元素深度剖面。 樣品表面用 . ... 二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 國立清華大學貴重儀器使用中心. ... <看更多>

The Materials Characterization Lab: Introduction to ToF - SIMS Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ( ToF - SIMS ) is a surface ... ... <看更多>

In this webinar the fundamentals TOF - SIMS depth profiling will be introduced, along with applications to demonstrate how TOF - SIMS depth ... ... <看更多>

For TOF - SIMS analysis, a solid sample surface is bombarded with a pulsed primary ion beam. Both atomic and molecular ions are emitted from ... ... <看更多>

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ( ToF - SIMS ) is a powerful analytical technique that can provide elemental and molecular ... ... <看更多>