tof sims深度的八卦，MOBILE01、PTT、DCARD、YOUTUBE和 Yahoo名人娛樂都在討論：

#11. TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀） - 百科知識中文網

TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子 ... 樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。

#12. 二次离子质谱仪TOF-SIMS测试分析技术简介 - 嘉峪检测网

二次离子质谱仪TOF-SIMS测试分析技术简介 ... 和分子构成，灵敏度好、质量分辨率高、可测量的分子量范围大，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析。

#13. 干货| 二次离子质谱大科普！TOF-SIMS及D-SIMS实例分析

TOF -SIMS应用. 可对H-U元素进行定性分析（定量需标样），检测极限可达ppm或更低的浓度。 良好的深度分辨率（0.1-1nm），但溅射速率很慢（＜1μm/H）。

#14. 飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) PHI nanoTOF

原理說明指帶有幾千電子伏特能量的一次離子束入射樣品表面，在作用區域激發出不同粒子包括二次電子、中性微粒、二次離子、反射離子等，通過不同的探測器採集不同微粒可 ...

#15. TOF-SIMS测试常见的问题及解答（一） 原创 - CSDN博客

1.DSIMS深度分辨率为什么高于SSIMS？回复：D-SIMS采用DC模式的离子源，深度剖析时分析和溅射同时进行，对表面是连续深度作用的过程，成分从表面到深度 ...

#16. 利用ToF-SIMS和Rf-GDOES深度剖析技术研究 ... - 汉斯出版社

结论：利用Rf-GDOES和ToF-SIMS溅射深度剖析定量分析技术，确定了柔性衬底上隔热功能薄膜的元素成分分布、膜厚及膜层间界面粗糙度，并利用分光光度计定量确定了该隔热 ...

#17. TOF-SIMS原理和常见问题解答_离子 - 搜狐

3、收集经过质谱分离的二次离子，可以得知样品表面和本体的元素组成和分布。 答：D-SIMS采用DC模式的离子源，深度剖析时分析和溅射同时进行， ...

#18. 二次离子飞行时间质谱测试（TOF-SIMS） - 铄思百检测

仪器名称：. 二次离子飞行时间质谱仪（TOF-SIMS）. 型号：. 德国IONTOF TOF.SIMS 5. 检测项目：. （1）深度分辨率：几个纳米；（2）空间分辨率：<一个微米；（3）质量 ...

#19. Time-of-Flight Secondary lon Mass Spectrometry

TOF -SIMS 对比其他分析仪器. TOF-SIMS. XPS. SEM-EDX, EPMA. 功能. 样品的原子分子构造. 样品的组成成分和状态分析. 样晶的组成成分分析. 检测深度. 0.1-1 nm.

#20. ToF-qSIMS 工作站| 恩詠ENYONGTEC

創新的飛行時間四極杆SIMS系統. Hiden TOF-qSIMS系統是為廣泛的材料的表面分析和深度剖析應用而設計的，包括聚合物、藥品、超導體、半導體、合金、光學和功能塗層以及 ...

#21. 在低温下通过ToF-SIMS Cs+ 深度分析获得SiO2 中无伪影的碱 ...

使用配备Cs +束作为溅射枪的飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS) 获得SiO 2中碱离子的无伪影深度分布。使用加热/冷却样品架将样品设置为低温(~-100°C)。

#22. Secondary Ion Mass Spectrometry

飞行时间二次离子质谱仪（TOF－SIMS： Time－of－Flight ... 离子和溅射离子时Alq3 （AIC18H12N2O2）的深度分析结果。

#23. TOF-SIMS二次离子质谱仪 - 华南检测

飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术。 ... 深度剖析：超薄多层薄膜结构分析（膜层厚度nm)，特别是有机薄膜。

#24. 二次中性粒子質譜分析儀介紹

SNMS 就變為二次離子質譜儀(Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)。本文介紹SNMS 檢測 ... Q-/MS-/TOF-. Q-/MS-/TOF- ... 出每周期深度僅為3.5nm 的W/Si 的多層薄.

#25. 乾貨| 二次離子質譜大科普!TOF-SIMS及D-SIMS實例分析

良好的深度解析度（0.1-1nm），但濺射速率很慢（＜1μm/H）。 可分析有機物，能直接輸出有機物分子式；. 可對元素進行面分布分析。 有機大分子分析：能直接 ...

#26. 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) - 康派斯

此外，该分析可以提供质谱信息;整个样本中XY 维度中的图像信息;以及样品中Z 方向的深度剖面信息。 TOF-SIMS是 智能图表并且是一种非常表面敏感的技术，可提供具有出色检测 ...

#27. 飞行时间二次离子质谱仪 - 清华大学分析中心

设备名称：飞行时间二次离子质谱仪Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS 设备编号：13027664 型号：TOF.SIMS 5 厂家：ION-TOF GmbH（德国）

#28. 飞行时间-二次离子质谱TOF-SIMS - 米格实验室

采集深度：0.1-2nm. 成分检出限：ppm. 采集信息：元素H~U，同位素、分子结构、化学键. 样品要求. 样品尺寸1*1cm，厚度小于8mm. 结果展示. 案例一：TOF SIMS深度剖析.

#29. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS - WinTech Nano

飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS-胜科纳米（苏州）股份有限公司. ... 原子层分子层（1nm以内），仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和 ...

#30. TOF-SIMS - 纳米真空互联实验站

飞行式二次离子质谱（TOF-SIMS）是超真空环境下向样品射入一次离子束，从样品 ... （2）用离子束将材料表面一层层除去的同时分析该层的质谱图，可获得三维的深度分布。

#31. 杂质控制（SIMS）

飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）可以分析大气中的气体元素，但由于采集速度 ... 此外，IMS 7f-Auto还具有高深度分辨率和高通量的深度剖析能力，并可提供亚微米横向 ...

#32. TOF-SIMS（二次离子飞行时间质谱仪） - 横渠网

结果展示. 1、质谱. 2、面扫. 3、TOF-SIMS 5 iontof--快递交替模式--深度剖析. 深度曲线-相对应的3D图 4. PHI Nanotof ...

#33. TOF-SIMS常见问题及答案(一)_离子 - 搜狐

答：首先TOF不能分辨单金和多金，但是金刚石测的特别多，尤其是想看金刚石里面的杂质，比如碳氢氧氮从表面到深度这种做对比的特别多，然后硼做的也 ...

#34. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于 ...

#35. TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱-化工仪器网-手机站

先进的动态TOF-SIMS系统，它使用直流主束的飞行时间分析仪，创建了成像质谱的新 ... 深度剖面. 该 SIMS非常适合于样品的深度剖面分析。使用直流离子束进行分析的一个 ...

#36. 北醫大設置3千多萬「飛行式二次離子質譜儀」（TOF-SIMS）

北醫大設置3千多萬「飛行式二次離子質譜儀」（TOF-SIMS），作為生醫質譜 ... profile，離子強度對深度如圖(b)）分析為主；2D-SIMS（如圖(c))為二度 ...

#37. 产品-飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) 德国IONTOF

Qtac-100 视频介绍 · 1、Qtac 简介 · 3、Qtac 深度信息 · 2、Qtac 样品制备 · 4、Qtac 深度剖析 · 5、Qtac 薄膜分析 · 6、Qtac 定量分析 ...

#38. TOF SIMS - 二次离子质谱 - 赛默飞

二次离子质谱仪（SIMS）可加装在双束电镜（FIB-SEM）上，因为FIB切割过程中会产生离子化的粒子；与此同时，由于这些粒子来自非常浅的深度，所以这被认为是一种表面分析技术 ...

#39. PHI TOF-SIMS用户成果赏析-北京理工大学先进材料实验中心

TOF -SIMS具有超高表面灵敏度（~ 1 nm）和检测灵敏度（ppm-ppb级），以及 ... 膜层结构深度信息和三维重构（3D）信息，这些优势使得TOF-SIMS成为重要的 ...

#40. 一文認識TOF-SIMS - 今天頭條

4 良好的深度解析度（0.1-1nm），但濺射速率很慢（＜1μm/H）。 5 可給出樣品的三維圖像信息。 6 同位素丰度分析...... TOF-SIMS的應用 ...

#41. 二次離子質譜大科普！TOF-SIMS及D-SIMS例項分析 - 古詩詞庫

TOF -SIMS應用. 可對H-U元素進行定性分析（定量需標樣），檢測極限可達ppm或更低的濃度。 良好的深度解析度（0.1-1nm），但濺射速率很慢（＜1μm/H）。

#42. 束蕴仪器-PHI-高性能飞行时间二次离子质谱仪

TOF -SIMS 中，经过反复测量和溅射，得到深层的结构。 这段期间内，所有的质谱都会被保存，完成测量后，任意深度的质谱都可以在 ...

#43. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 研鹿检测

粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄，粉末样品一般不做深度剖析，只做质谱和mapping。 如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人，需要真空封装好提前预约时间 ...

#44. TOF-SIMS技术纳米分析领域应用现状探讨会在华南检测召开

讲师深度剖析应用案例，与技术代表共同探讨，相互学习交流。 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪. 设备 ...

#45. CAMECA二次离子质谱仪QUAD4550-参数-价格 - 仪器信息网

飞行时间二次离子质谱仪/ PHI nano TOF 3/TOF-SIMS ... 中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。

#46. 元素分析方法汇总-SIMS

#TOF-SIMS 1 ... TOF-SIMS：飞行时间二次离子质谱 ... TOF-SIMS不仅可以得到深度剖析曲线，逐层分析每一层的2D成像，每个像素点的二次离子质谱图都能 ...

#47. CN108028168A - 二级离子质谱仪和二级离子质谱法

在所述二次离子质谱仪中，尤其感兴趣的是飞行时间二次离子质谱仪(ToF‑SIMS)。 ... 如果用所述一次离子束去除所述样品，则样品的组成可以测量为深度z(深度分布)的函数。

#48. 飞行时间二次离子质谱仪的原理 - 仪器网

其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域。 TOF-SIMS ...

#49. 二次離子質譜：出售SIMS - AntiTeck

5、SIMS質譜可用於微區成分分析和深度剖析，還可以獲得一定程度的晶格信息。 二次離子質譜的種類. 飛行時間二次離子質譜儀（ToF-SIMS）. In TOF-SIMS， ...

#50. 二次离子质谱仪 - 仪器

型号规格：ION TOF-SIMS 5. 设备编号：. 生产厂商：Ion-Tof GmbH. 供货商：. 设备产地：德国. 年有效机时： ... 对材料表面进行质谱分析，二维成像以及深度分析等。

#51. 摻雜分析SIMS 和SRP - SGS

我們的研究所提供最高品質服務，業績記錄良好。 我們實行：. 使用次級離子質譜分析法（經典動態SIMS 和TOF-SIMS）進行摻雜和雜質的深度分析。

#52. 二次離子質譜儀(SIMS) :: 博碩士論文下載網

SIMS，適用分析深度>1um，可以得到元素與同位素資料；飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）...閎康添購的M6plus為ION-TOF最高階機型，具有<50nmHighlateral .

#53. PHI NanoTOFII TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪 - 仪器网

FIB-TOF三维深度分布成像：TRIFT分析仪的内在特性和优势是可以通过对FIB铣削坑的垂直型墙直接成像而不必倾斜样品。相对于使用传统的溅射离子源方法,FIB ...

#54. 飞行时间——二次离子质谱仪 - 中国科学院上海应用物理研究所

飞行时间——二次离子质谱仪（TOF-SIMS）采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面 ... 质量分辨率高、可测量的分子量范围大，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析。

#55. 湖北九峰山实验室

TOF -SIMS可以探测出样品中ppm ~ ppb量级的元素含量，可用于半导体或者其它材料的表面和深度剖面的元素成分分析。 ... 半导体掺杂剂与杂质的深度剖析；: 薄膜的成份及杂质测定 ...

#56. 飞行时间二次离子质谱仪

TOF -SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)是通过用一次高能离子束轰击样品表面，通过收集产生的的二次 ... 深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率.

#57. 关于举办“飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）

普遍应用于材料表面成分及分布，痕量金属探测，化合物结构测定，精确原子量测定，同位素标定，失效分析，多层膜层结构表征，表面或深度分布，吸附或扩散 ...

#58. Kore SurfaceSeer I TOF-SIMS

Kore SurfaceSeer I: TOF-SIMS · 使用第二个离子源进行深度分析. LMIG不适合腐蚀凹坑，因此，为了进行SIMS深度剖析，我们使用了第二支离子枪专门用于溅射。 通过使用第二个 ...

#59. Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS ...

Depth profile analysis by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a consolidated tool for the molecular analysis and ...

#60. 宋代黑釉茶盏油滴的飞行时间二次离子质谱表征

本研究利用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）表征典型黑... ... SIMS深度剖析发现，α-Fe2O3晶体的连续深度不小于5 μm。基于SIMS表征结果，还探讨了赤铁矿沉积薄膜状镜 ...

#61. 用于ToF-SIMS和XPS分析的纳米颗粒的制备

由于二次离子的平均自由通路，该技术也具有高度的表面敏感性，并且具有1-2nm的信息深度，但由于基质效应，二次离子的电离概率（因此产量）受到其周围基质 ...

#62. TOF-SIMS测试——复达客户检测案例

委托复达检测中心对客户提供的样品进行TOF-SIMS测试，得到碘离子(I-），氟离子（F-), 硫离子(S2-)，氧离子（O2-）和SnO-这5个离子在深度上的分布情况 ...

#63. 網路上關於二次離子質譜儀-在PTT/MOBILE01/Dcard上的升學 ...

該技術提供了從幾埃(Å) 到幾十微米(µm) 的廣泛深度範圍內的元素深度剖面。 樣品表面用 . ... 二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 國立清華大學貴重儀器使用中心.

#64. 二次离子质谱 - 抖音

一文读懂飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) ... 它不仅能够做到从H到U的全元素及同位素分析，同时还可以分析团簇和分子结构，对固体进行微区分析成像和深度.

#65. 飞行时间二次离子质谱仪 - 上海材料与制造大型仪器区域中心

SurfaceSeer型TOF-SIMS主要由初级离子枪、延迟提取系统、电荷中和系统、TOF分析器、真空泵四个模块组成，同时增加了深度剖析、光学观测、化学地图和二次电子检测功能， ...

#66. 聚合物表面和界面分析之XPS和tof-sims的原理 - 材料与测试网

本文将通观x射线光电子能谱（XPS或称ESCA）和质谱仪（tof-sims）。 ... electron microscope）测低能量的二次电子样本深度为几个纳米。

#67. 华中地区高校首台TOF-SIMS正式验收交付使用

近日，华中地区高校首台飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）正式通过验收，交付使用！ ... TOF-SIMS的分析深度2nm左右，横向空间分辨率可达50nm,.

#68. 服務項目一覽表 - 貴重儀器中心

儀器代碼 MS000900; 儀器名稱 TOF-SIMS 二次離子質譜儀 ... 4、Angle resolved analysys，角度為5º~90º，改變不同之角度，可以得到不同深度之圖譜。

#69. 飞行时间二次离子质谱仪|技术百科

四极杆qSIMS主要用于掺杂物深度剖析和薄层分析，低入射能力，高入射电流，溅射和分析连续进行，是典型的Dynamic SIMS 动态SIMS。 飞行时间二次离子质谱TOF ...

#70. 飞行时间二次离子质谱在锂基二次电池中的应用 - 储能科学与技术

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS), including ex situ and in situ methods, has emerged in recent energy electrochemical fields due to ...

#71. SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次离子质谱 - 博客园

浅埋植入物和超薄膜（ULE植入物和栅极氧化物）的超高深度分辨率分析； ... TOF-SIMS depth profiles of the IZO thin films in order to study the ...

#72. tof-sims 分析原理 - 稀土掘金

tof -sims 分析原理技术、学习、经验文章掘金开发者社区搜索结果。 ... 深度图像=普通RGB三通道彩色图像+DepthMapDepthMap｜深度图包含与视点场景对象表面距离有关信息 ...

#73. 二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會 - TMU

Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer, TOF-SIMS),故共同儀器中心特於5月14日,舉辦 ... Sub-micron TOF-SIMS Imaging ... 成像質譜深度剖析。

#74. 先端SIMS分析仪NanoSIMS 50L - 东丽分析

NanoSIMS 本次导入的NanoSIMS50L是一种二次离子质谱（SIMS）装置， ... 分辨率的成像分析和深度剖面分析，而传统的动态SIMS和TOF-SIMS则无法实现。

#75. Ar+共濺射與動態二次離子質譜術 - 國立臺灣大學

secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) has been shown to be a promising ... +-Ar+離子源共同濺射，0.5 mol%胜肽-海藻糖之94 nm 薄膜深度分. 佈分析原圖.

#76. (PDF) Study of Thermal-Protective Multilayer Films on Flexible ...

光光度计定量确定了该隔热功能多层膜的透过率。 关键词. 隔热多层膜，深度剖析，ToF-SIMS ...

#77. 面向动态表界面分析的原位液相二次离子质谱新技术研究获进展

飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）是迅速发展的先进表界面分析技术。 ... 高时间分辨（μs）、超薄信息深度（nm）和“软”电离等特性的原位液相ToF-SIMS ...

#78. Introduction to Time of Flight Secondary Ion Mass ... - YouTube

The Materials Characterization Lab: Introduction to ToF - SIMS Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ( ToF - SIMS ) is a surface ...

#79. Introduction to TOF-SIMS Depth Profiling Webinar - YouTube

In this webinar the fundamentals TOF - SIMS depth profiling will be introduced, along with applications to demonstrate how TOF - SIMS depth ...

#80. 3D depth profiling - TOF-SIMS Principle - YouTube

For TOF - SIMS analysis, a solid sample surface is bombarded with a pulsed primary ion beam. Both atomic and molecular ions are emitted from ...

#81. 新電子 09月號/2021 第426期 - 第 114 頁 - Google 圖書結果

磁偏式(Magnetic Sector)SIMS或XPS作動態(Dynamic)縱深的定量分析應用,因其一次離子 ... 此時如果需要了解是哪一種有機化合物,即可透過TOF-SIMS的質譜分析來進行鑑定。

#82. 无机材料性能学基础 - 第 248 頁 - Google 圖書結果

... 分辨能力以及深度分辨能力,可提供三维方向的各种化学信息。SIMS 和 ISS 由于定量效果较差,在常规表面分析中的应用相对较少。但近年来随着飞行时间质谱( TOF - SIMS ) ...

#83. ToF SIMS Introduction Seminar - YouTube

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ( ToF - SIMS ) is a powerful analytical technique that can provide elemental and molecular ...

#84. 必ず知っておきたい クリーンルーム環境の維持管理

... 光学顕微鏡にくらべて焦点深度が大きい,EDX により元素分析も可能 2試料の ... 軽元素に有利飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) 1表面分析,試料の最表面の ...

#85. 【测试/全年无休/速度快】W: 15071040697/SEM/ESR/ICP ...

总谱、精细谱、含量、价带谱、XPS深度蚀刻、微区成像，原位XPS 2. 紫外光电子能谱（UPS) 需要导电性良好 ... 二次离子飞行时间质谱仪（TOF-SIMS）

#86. 树脂膜、印刷线路板用覆盖层、印刷线路板用基板 - X技术

例如，可以用电子显微镜测量经表面处理的层的厚度，并且在大致平行于测量表面的方向上进行溅射来去除材料的同时，通过(例如)sims在深度方向上分析杂质 ...