本實驗利用高縱深解析度的SIMS(二次離子質譜儀)來測量界面上的互溶性高分子因擴散而... 作者:葉佩娟、林熙乾、楊長謀清華大學材料科學與工程學系徐明聖、凌永健清華... ... <看更多>
Search
Search
本實驗利用高縱深解析度的SIMS(二次離子質譜儀)來測量界面上的互溶性高分子因擴散而... 作者:葉佩娟、林熙乾、楊長謀清華大學材料科學與工程學系徐明聖、凌永健清華... ... <看更多>
本實驗利用高縱深解析度的SIMS(二次離子質譜儀)來測量界面上的互溶性高分子因擴散而... 作者:葉佩娟、林熙乾、楊長謀清華大學材料科學與工程學系徐明聖、凌永健清華... ... <看更多>
(2)以次級離子質譜(SIMS,secondary-ion mass spectroscopy)為例,說明其在 ... (3)縱深量測(depth profiling):在分析時會一邊製造出表面的凹陷,探討組成隨 ... ... <看更多>