tof sims分析的八卦，MOBILE01、PTT、DCARD、YOUTUBE和 Yahoo名人娛樂都在討論：

#11. 一文读懂飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）

飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ，简称TOF-SIMS）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子， ...

#12. SIMS - 材料分析- 服務項目

SIMS分析 優點 · 從氫氣到鈾及以上的所有元素（偵測極限低至~ppm/ppb） · 屬於破壞性分析（材料濺射） · 可以應用於任何類型的固體材料（絕緣體，半導體，金屬） · 分析薄膜成分 ...

#13. GCIB-TOF-SIMS

GCIB-TOF-SIMS. 表面汙染薄膜中的添加劑分析. 有機薄膜中的組成分布解析. 有機層的組成構造解析. 有機材料的低損害測定. 將最表面的汙染層以Ar-GCIB 去除後, ...

#14. tof-sims分析——看完你就懂了！_样品

飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子，根据二次离子飞行到探测器的时间 ...

#15. 跟蹤分析– SIMS、ToFSIMS 和ICPMS

飛行時間二次離子質譜法(ToF–SIMS) – 探測表面雜質; 以氣相分解(VPD) 或包提取方法(PEM) 為支撐的電感耦合等離子體質譜法(ICPMS) – 對眾多 ...

#16. 表面分析技术详解：飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）

此外，TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子 ...

#17. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）

科学指南针可为您提供TOF-SIMS服务，TOF-SIMS是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子 ...

#18. 有機發光二極體及金屬氧化物奈米多層膜

飛行時間式二次離子質譜術(ToF-SIMS)為一可分析固體表面化學資訊的技術。其質量解析度可達10000，且靈敏度可達ppma至ppba等級。化學影像的橫向解析度可藉由鎵離子槍而 ...

#19. 二次離子質譜術分析技術研發與新型陽離子高分子基因載體 ...

飛行時間二次離子質譜術TOF-SIMS(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometry)，具有同時分析微量有機分子與無機元素的能力，質量分析範圍可從氫原子到分子量上萬 ...

#20. TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀）_百度百科

TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間 ...

#21. 静态二次离子质谱（TOF-SIMS）

二次离子质谱SIMS是一种检测固体表面及近表面的成分信息的技术，几乎能够分析任何真空下稳定的固体，其不仅能够做到从H到U的全元素及同位素分析，同时还可以分析原子团 ...

#22. 二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用

他们将Oetjen和Poschenrieder发明的能量聚焦TOF 分析器安装到一台原子探针仪上。已故德国科学家Benninghoven及其研究团队第一个将这种设计用于SIMS仪器， ...

#23. 一文認識TOF-SIMS

飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次離子飛行到探測器的時間 ...

#24. TOF-SIMS二次离子质谱仪

飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术。高能一次离子束（如Ga+，Bi3+， Arn+，Cs+等）轰击样品表面，在轰击区域产生包含样品表面成分信息 ...

#25. Ar+共濺射與動態二次離子質譜術

（TOF-SIMS)已被證明是分析生物樣本之頗具發展潛力的一項技術，其中碳簇離. 子(C60. +)已引起廣大的研究興趣。隨著高質量的分子離子飛濺而出，可在不預先.

#26. TOF-SIMS | 概念理论| 技术资料

理论上在可分析的m / z范围值里，它并没有任何限制。 基本原理. 指带有几千电子伏特能量的一次离子束入射样品表面，在作用区域 ...

#27. TOF SIMS | Thermo Fisher Scientific - TW

TOF SIMS (secondary ion mass spectrometry) is enabled by focused ion beam FIB milling, providing high resolution elemental characterization.

#28. TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀） - 百科知識中文網

TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子 ... 就可得到一個全譜，離子利用率最高，能最好地實現對樣品幾乎無損的靜態分析，而其 ...

#29. tof-sims 分析原理

TOF -SIMS 分析的基本原理是利用激光或离子束等方式对待分析样品表面进行轰击，使得样品表面的分子和原子离子化并进入质谱仪中进行分析。具体而言，TOF-SIMS 分析通过两 ...

#30. 飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）

飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）. 二、设备型号、关键性能参数. 型号： TOF.SIMS5-100. 关键性能参数：. 功能：元素构成和化学结构的信息. 工作压力：UHV. 分析用 ...

#31. 二次離子質譜儀

Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基於質譜的表面分析技術，二次離子 ... 儘管TOF分析器出現的比較早，但是由於技術上的難題，直到1982年它才被用於SIMS ...

#32. TOF SIMS-二次離子_表面分析飛行時間式質譜儀/ KORE UK. ...

1. TOF-SIMS surface analysis · 2. Surface mass spectrometry · 3. Insulator analysis · 4. Positive and Negative SIMS

#33. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息，其 ...

#34. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

二次离子质谱（Secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS）是一种表面分析技术，是基于一次离子与样品表面的相互作用。SIMS工作原理是指带有几千 ...

#35. Time-of-Flight Secondary lon Mass Spectrometry

Mass Spectrometry )。 TOF-SIMS. SIMS 中，以飞行时间作为分析的质谱法叫做飞行时间二次离子. 质谱法。样晶释放的二次商子由引出电极加速，并且被抽入检测器.

#36. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电介质，检测限低于 ...

#37. 二次离子质谱仪TOF-SIMS测试分析技术简介

导读：采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。 1. 飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS）简介.

#38. TOF-SIMS

TOF -SIMS. 飞行时间二次离子质谱分析(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 的缩写，是一种表面分析方法，采用这种方法时，表面会受到脉冲离子束的轰击。

#39. TOF-SIMS数据分析

TOF -SIMS数据分析. DorisG (举报此信息). 如图1，实验室给我的原数据该怎么下手分析呢？我知道mass是相对分子质量，intensity就是个强度单位，请问 ...

#40. 影像顯示器分析技術專題 :: 博碩士論文下載網

博碩士論文下載網，飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS) 可同時分析微量元素與有機分子，質量數範圍可由氫原子到分子量上萬的高分子，具奈米縱深分析解析度與< 100 奈米 ...

#41. TOF-SIMS分析原创

TOF -SIMS explorer. 链接：https://pan.baidu.com/s/1BrbQMin598LltyxC92GeRQ?pwd=s8e1 提取码：s8e1. 选择元素. 在这里插入图片描述

#42. 飞行时间二次离子质谱仪

设备名称：飞行时间二次离子质谱仪Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS 设备编号：13027664 型号：TOF.SIMS 5 厂家：ION-TOF GmbH（德国）

#43. 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

相比之下，TOF-SIMS使用脉冲离子束，在分析的时间尺度上不会显着溅射蚀刻或损坏样品表面。这种无损伤使其成为分析表面元素（元素周期表中大多数元素）和分子物种存在的理想 ...

#44. 乾貨| 二次離子質譜大科普!TOF-SIMS及D-SIMS實例分析

TOF -SIMS及D-SIMS實例分析. 2021-02-26 易科學. 通過質譜圖可以用來獲取樣品表面的分子、元素及同位素的信息，可以探測化學元素或化合物在樣品表面和內部的分布，也 ...

#45. 北醫大設置3千多萬「飛行式二次離子質譜儀」（TOF-SIMS）

而北醫大之生醫質譜影像中心推廣具有高感度、便捷、快速又標準化的質譜影像分析技術，將以TOF-SIMS為核心技術，成為亞洲第一的質譜影像研究中心。

#46. 杂质控制（SIMS）

常见的微量分析技术（如辉光放电质谱法）由于高本底信号限制而无法测量轻元素（氢、碳、氮和氧）。飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）可以分析大气中的气体元素，但 ...

#47. 【特色服务】SEM-FIB-Raman-TOF-SIMS原位分析平台

仪器简介：该系统在SEM-FIB系统的基础上配备了拉曼（Raman）、飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）、能谱仪（EDS）、背散射电子衍射仪（EBSD）、阴极荧光（CL）、扫描 ...

#48. 飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS 德国IONTOF 表面分析M6

TOF -SIMS是SIMS（二次离子质谱）分析技术与飞行时间质谱分析器（TOF）相结合的首字母缩写。该技术提供了有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息， ...

#49. 飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）简介 - Bilibili

#50. TOF-SIMS工作原理

目前TOF-SIMS主要用于有机样品的表面分析，如生物药品的有机物分析、半导体材料的污染分析、储能材料分析及有机分子碎片鉴定等。随着技术的改善，分析 ...

#51. Secondary Ion Mass Spectrometry

新设计、对应多种分析应用的TOF－SIMS. 飞行时间二次离子质谱仪（TOF－SIMS： Time－of－Flight Secondary Ion Mass ...

#52. 二次離子質譜：出售SIMS

tof -sims分析. 二次離子質譜儀 是一種基於質譜的表面分析技術。 二次離子質譜的工作原理是基於一次離子與樣品表面相互作用的現象。 能量為幾千電子伏特的一次離子轟擊 ...

#53. 以C60+-Ar+共濺射與動態二次離子質譜術平行偵測與定量胜 ...

以簇離子(cluster ions)作為濺射離子源的時間飛行二次離子質譜儀（TOF-SIMS)已被證明是分析生物樣本之頗具發展潛力的一項技術，其中碳簇離子(C60+)已引起廣大的研究 ...

#54. TOF-SIMS（二次离子飞行时间质谱仪）

答：D-SIMS采用DC模式的离子源，深度剖析时分析和溅射同时进行，对表面是连续深度作用的过程，成分从表面到深度的信息是连续采集。而SSIMS采用脉冲模式， ...

#55. TOF-SIMS技术纳米分析领域应用现状探讨会在华南检测召开

10月26日，TOF-SIMS技术在表面纳米分析领域中的应用现状探讨会在华南检测中心成功举行，出席本次会议的主要嘉宾有：来自北京艾飞特科技高聚宁总经理、德国ION-TOF的Dr.

#56. 二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會

Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer, TOF-SIMS),故共同儀器中心特於5 ... 於Purdue University取得分析化學博士學位,研究結合了XPS與電化學分析 ...

#57. 二次离子质谱仪TOF-SIMS

二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、 ...

#58. 乾貨| 二次離子質譜大科普！TOF-SIMS及D-SIMS例項分析

TOF -SIMS及D-SIMS例項分析. EasyScience2019-09-07 09:42:53. SIMS. ♪. 二次離子質譜. 二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次 ...

#59. 可以对样品进行有效的ToF-SIMS数据解释,Surface and ...

飞行时间二次离子质谱仪（ToF-SIMS）是进行表面分析的强大工具，但是SIMS过程中分子种类的破碎可能会导致复杂的质谱图。尽管每种化合物的碎片特征通常 ...

#60. 一文認識TOF-SIMS - 今天頭條

飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次離子飛行到探測器的時間 ...

#61. 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

分析 原理：飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子，根据二次离子飞行到探测器的时间不同来 ...

#62. 聚合物表面和界面分析之XPS和tof-sims的原理

本文将通观x射线光电子能谱（XPS或称ESCA）和质谱仪（tof-sims）。这两种技术是最有用的分析技术，用于研究聚合物表面和界面的化学结构。

#63. 使用二次离子质谱(sims)和相关技术高灵敏地检测和定量生物 ...

术语“稀有二次离子”是指在SIMS中产生并分析的那些离子，并且包含按照探针和/或靶 ... 在另一种实施方案中，探针/靶双联体通过飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)检测。

#64. TOF-SIMS离子质谱-上海禹重实业有限公司

所有元素和同位素，包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上，该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率（在实践中通常是大约10000amu ...

#65. 表面科學與介面分析實驗室

表面科學與介面分析實驗室 ... organic, perovskite）、表面分析Surface Analysis (XPS, ToF-SIMS, AES...etc)、光電元件、3D 列印材料與技術3D printing materials ...

#66. tof-sims - 抖音百科

TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通过用一次离子 ... 就可得到一个全谱，离子利用率最高，能最好地实现对样品几乎无损的静态分析，而其 ...

#67. 二次离子质谱技术及对材料深度的分析检测应用

微源检测提供德国ION-TOF先进TOF-SIMS仪器检测服务，可以提供完善的SIMS技术解决方案。下图为某半导体器件的DSIMS深度分析案例，从图中可以看出器件 ...

#68. 二次离子质谱（SIMS）的表面分析和深度剖析

二次离子质谱SIMS是一种检测固体表面及近表面的成分信息的技术， ... 在静态SIMS中，配备TOF检测器是当前表面分析技术中分辨率和灵敏度最高的 ...

#69. 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物包裹体研究中的应用

矿物包裹体的化学成分研究在地质学、矿床学和油气勘探等方面具有重要意义。目前对包裹体化学成分分析的主要分析方法有激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)、电子 ...

#70. TOF-SIMS | 株式会社東レリサーチセンター | TORAY

東レリサーチセンターのTOF-SIMSの特徴は、豊富なデータベースによる詳細で正確な解析、23年の実績にもとづく信頼性の高い分析の提供、結果報告・アフターフォロー、 ...

#71. 網路上關於二次離子質譜儀-在PTT/MOBILE01/Dcard上的升學 ...

二次離子質譜儀依質量分析器的不同可區分為. 扇型磁場式(magnetic-SIMS)、飛行時間式(time-of- flight SIMS, TOF-SIMS) 及四極柱(quadrupole ...

#72. TOF-SIMSとは - 表面分析情報

飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム（一次イオン）を照射し、表面から放出され ...

#73. 【原创】飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS） - 仪器社区

tof -sims (time-of-flight Secondary ion mass spectrometer)是飞行时间-二次离子质谱仪，它可以进行全元素分析，包括H，同时还可以分析元素的全部同位素。

#74. 飞行时间——二次离子质谱仪 - 中国科学院上海应用物理研究所

飞行时间——二次离子质谱仪（TOF-SIMS）采用质谱技术分析材料表面原子层以确定表面元素组成和分子结构。其工作原理是样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时，一次离子注入 ...

#75. 質譜分析會使用哪些類型的儀器？

要在實驗室裡成功，您需要適當的質譜分析設備。瞭解各種不同的MS產品及各項產品的用途。 ... 四極桿的解析度低於某些採用其他設計的質譜儀，如飛行時間(TOF)儀器。

#76. 利用ToF-SIMS和Rf-GDOES深度剖析技术研究柔性衬底上的 ...

结论：利用Rf-GDOES和ToF-SIMS溅射深度剖析定量分析技术，确定了柔性衬底上隔热功能薄膜的元素成分分布、膜厚及膜层间界面粗糙度，并利用分光光度计定量确定了该隔热 ...

#77. 冬虫夏草中甘露醇和虫草素的TOF-SIMS分析

冬虫夏草中甘露醇和虫草素的TOF-SIMS分析. 李展平 1, 真田则明 2, 孙素琴 1. 1. 清华大学分析中心，北京100084 2. ULVAC-PHI Inc. 370 Enzo, Chigasaki, Kanagawa, ...

#78. 材料表征MA - 服务项目- 半导体- 行业解决方案

... 可以为半导体材料、液晶显示材料、电子材料提供等表面分析、元素离子测试、 ... 、LC-Q-TOF、GC、GCMS、GCMSMS、Py-GCMS、HS-GCMS、GC-Q-TOF、GPC、Tof-SIMS等。

#79. TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱

先进的动态TOF-SIMS系统，它使用直流主束的飞行时间分析仪，创建了成像质谱的新范式。...,如有意向请联系科睿设备有限公司.

#80. 关于举办“飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）

飞行时间二次离子质谱（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS）是一种非常灵敏的材料表面分析表征技术。

#81. 元素分析方法汇总-SIMS

#TOF-SIMS 1. 常用的元素分析设备对比. 图片. No. 01. SIMS原理. 一定能量的离子打到固体表面会引起表面原子分子或原子团的二次发射，即离子溅射。

#82. MST｜［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法

最表面を高感度で分析可能; HからUまでの全元素、C,H,N,O,P,Sなどからなる有機物の分子イオンが取得可能; イメージ分析が可能; 有機・無機化合物の構造解析・同定が ...

#83. TOF-SIMS常见问题及答案(一)_离子

Q11 TOF-SIMS在小分子有机材料方面具体… ... 推出TOF-SIMS直播课，对TOF-SIMS的原理、技术特点、主要功能、数据类型、应用及案例分析等内容进行讲解。

#84. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) is a surface analytical technique that focuses a pulsed beam of primary ions onto a sample surface ...

#85. 二次离子质谱仪 - 仪器

型号规格：ION TOF-SIMS 5 ... 年1月完成安装调试，至今已使用10年，目前设备状态良好，可以用于分析各种固态材料。对材料表面进行质谱分析，二维成像以及深度分析等。

#86. 初心者のための TOF-SIMS 分析の勘どころ

TOF -SIMS は Time-Of-Flight Secondary Ion Mass. Spectrometry の略であり，飛行時間型質量分析装置. を利用した二次イオン質量分析法である．特に照射. する一次イオンの ...

#87. TOF-SIMS分析 | 株式会社アイテス

TOF -SIMS (Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy)は、軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで、最表面の微量成分の分析が可能です。

#88. 化学品のTOF-SIMS分析

このような症状が起こったときの原因究明方法として、TOF-SIMS分析は有効に活用できます。試料表面から出る分子イオン、フラグメントイオン、または原子イオンを測定し ...

#89. 二次イオン質量分析法 －TOF-SIMS法の紹介－ : SI NEWS

二次イオン質量分析法 －TOF-SIMS法の紹介－. Secondary Ion Mass Spectrometry -Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry- ...

#90. TOF-SIMSによる表面分析

飛行時間型 二次イオン質量分析（TOF-SIMS；Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）は、各種材料の極表面（～2nm ）の元素、分子の定性分析を行う表面分析 ...

#91. 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)

飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)は試料表面へのイオンビーム照射によって放出された二次イオンを飛行時間により質量分離を行う表面分析手法です。

#92. 飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS)

飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)は、極表面に存在する無機・有機成分を分子レベルで高感度に評価できる手法で、マッピング分析や深さ方向分析が可能です。

#93. 冬虫夏草中甘露醇和虫草素的TOF-SIMS分析

用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析研究了冬虫夏草中两个最重要的药效活性物质, 甘露醇和虫草素, 重点研究对应质量数251 amu的质谱峰含有的化学 ...

#94. フッ素系潤滑膜のTOF-SIMS分析

Biイオン源を用いた飛行時間型2次イオン質量分析法（TOF-SIMS）により、試料表面に存在する元素や化合物の化学的な構造情報を、高感度かつ高質量・高空間分解能で得る ...

#95. TOF-SIMSによる材料表面の有機物の分析

飛行時間型二次イオン質量分析 (Time-of-Flight. Secondary Ion Mass Spectrometry; TOF-SIMS) は材. 料の最表面 ( 数nm ) を対象とした表面分析法の一. つであるが，X線 ...

#96. 飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍资料- 讨论区

飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子，根据二次离子飞行到探测器的时间 ...

#97. TOF-SIMS单细胞化学成像研究。

二次离子质谱作为目前空间分辨率最高的质谱成像技术,以其免标记、高灵敏、多组分检测优势和亚微米级高空间分辨成像优势为诸多生命科学问题的研究提供了全新的分析手段, ...

#98. 用于ToF-SIMS和XPS分析的纳米颗粒的制备

此外，对高分辨光谱中结合能的详细分析使得能够定量测定这些电子的价态。 在ToF-SIMS中，表面用聚焦离子束（初级离子）溅射，从材料中喷射的离子（二次 ...

#99. 仪器管理 - 中国科学院

序号 仪器名称 仪器型号 预约类型 预约方式 仪器状态 操作 1 横截面离子束抛光仪 693 时间预约 必须预约 可用 预约 2 纳米离子探针 NanoSIMS 50L 项目预约 必须预约 可用 预约 3 电感耦合等离子体质谱仪 NexION 300D ICP‑MS 时间预约 可不预约 可用 预约

#100. 抓出半導體製程缺陷?【宜特解你的痛EP.20】 - YouTube

... 微米以上的表面檢測04:37 TOF - SIMS -黃光/蝕刻製程等高分子有機化合物定性 分析 05:04 樣品需要準備多大呢? 05:39 主持人結尾(索取表面 分析 工具比較 ...